引言
GPIB(通用接口總線)是國際通用的標(biāo)準(zhǔn)儀器接口。測試儀器供應(yīng)商一般都提供豐富的GPIB指令集，用戶可以直接調(diào)用通訊命令，從而大大縮減底層搭建的工作量。
計(jì)算機(jī)打印接口應(yīng)用擴(kuò)展
計(jì)算機(jī)打印接口(LPT1，也可稱為并行口)有三個(gè)端口，包括數(shù)據(jù)輸出端口(端口地址為0378H)、狀態(tài)輸入端口(0379H)和命令輸出端口(037AH)。一般情況下，計(jì)算機(jī)打印接口的三個(gè)端口通過25腳D型插接件與打印機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)、狀態(tài)和命令信息的傳送。本文設(shè)計(jì)的SoC自動(dòng)化測試方案主要應(yīng)用數(shù)據(jù)輸出端口，該端口有一個(gè)8位數(shù)據(jù)輸出寄存器，其I/O特性如表1所示。
表1 并行端口數(shù)據(jù)輸出位特性
對數(shù)據(jù)輸出端口發(fā)出一條OUT指令可將數(shù)據(jù)直接寫到插接件的引腳上。端口寄存器及其所連引腳狀態(tài)可通過同一端口讀出，其目的是為了檢驗(yàn)數(shù)據(jù)輸出端口傳輸?shù)恼_性。狀態(tài)輸入端口由5個(gè)三態(tài)門緩沖器構(gòu)成，緩沖器輸入端與插接件的引腳連接。
SoC測試系統(tǒng)中需要的數(shù)字信號較多，在使用外部數(shù)據(jù)作為控制信號且要求傳輸速率不高于10MHz的情況下，支持24路并行信號輸出的計(jì)算機(jī)打印接口是該測試系統(tǒng)的理想選擇。
測試平臺的構(gòu)建
本文將測試平臺中的并行控制端口部分、可編程邏輯芯片配置部分以及測試部分獨(dú)立，分別設(shè)計(jì)后再進(jìn)行各模塊間的連接和通信。這樣避免了各模塊之間的設(shè)計(jì)干擾，提高了測試平臺搭建效率，另外只要保證物理連接和通信的有效性，就可以充分利用上位機(jī)和下位機(jī)軟件進(jìn)行控制，并可以隨時(shí)修改。圖1所示為并行控制端口的原理圖設(shè)計(jì)方案。并行接口設(shè)有三根時(shí)鐘信號輸出端，用以控制寄存器芯片正確寫入數(shù)據(jù)，同時(shí)達(dá)到片選的目的。74HC574芯片的片選端口通過PC_CONTROL置高或者置低，用以控制測試平臺工作在自動(dòng)測量或手動(dòng)單片測試兩種模式。由于計(jì)算機(jī)對并行口數(shù)據(jù)有正向輸出和反向輸出兩種數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，所以利用74HC14反相器搭建了時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)電路。如圖1所示，
圖1 并行控制端口原理圖
10、12、13端口外接電阻，使計(jì)算機(jī)可以通過查找電阻判斷系統(tǒng)是否存在以及是否工作正常。
軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)
本測試系統(tǒng)的軟件部分由兩個(gè)主體模塊組成，外圍利用Visual C++編寫可視化測試軟件EBS(評估板系統(tǒng))。EBS的編寫在許多Visual C++教程中闡述的非常多，本文代碼段可參見電子設(shè)計(jì)信息網(wǎng)博客gump.spaces.eaw.com.cn。基于批處理文件的測試系統(tǒng)是軟件部分的核心。經(jīng)過分析可知，測試系統(tǒng)最主要的工作是利用WinIo標(biāo)準(zhǔn)輸入/輸出模塊準(zhǔn)確地輸出數(shù)字控制信號，對每一個(gè)測試儀器、每一個(gè)測試的指標(biāo)參數(shù)及每一個(gè)測試操作都定義一個(gè)類，以便調(diào)用。完成上述工作后即可在命令行界面下通過輸入指令分步驟完成測試，利用批處理文件可以使完整測試一次性完成。
測試流程及結(jié)論
利用之前設(shè)計(jì)的硬軟件模塊可以完成SoC自動(dòng)化測試。圖2為測試系統(tǒng)框架，
圖2 測試系統(tǒng)框架
圖3為利用該系統(tǒng)測試得到的一個(gè)數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出信號的時(shí)域波形，
圖3 合成信號時(shí)域波形
圖4所示為利用該系統(tǒng)得到的該信號的頻譜特性。
圖4 合成信號頻譜特性
通過相關(guān)的GPIB接口總線對設(shè)備的控制指令控制頻譜儀，可以使頻譜的捕捉在4秒鐘內(nèi)完成，整個(gè)測試流程在1分鐘內(nèi)完成，有效地節(jié)約了測試時(shí)間。在多片測試中，測試員啟動(dòng)批處理文件就可以完成快速測試流程。對比傳統(tǒng)測試方案，該方案不需要反復(fù)更換測試儀器探頭及調(diào)試測試儀器，只需要更換開關(guān)電源及待測芯片即可。