通常情況下我們可以在運放的datasheet中得到運放的輸入電容Ccm和Cdif。這些值通常是典型值。有某些情況下，可能需要實測一下運放的輸入電容，下面提供一種實用的測試方法。

下圖是測試的原理圖，基本測試原理是把運放接成跟隨器，然后在同向輸入端串聯(lián)一個電阻（阻值一般在100K-1M之間），這個電阻與運放的輸入電容會形成一個RC電路，我們測試出這個電路的-3dB頻點，已知串聯(lián)電阻。就可以計算出運放的輸入電容。這里需要注意的是，電阻也是有等效并聯(lián)電容的。如一個典型的1/4W電容的等效并聯(lián)電容約為0.3pF。我們可以通過串聯(lián)電阻的方法來減小電阻的等效并聯(lián)電容。

下面的圖片是實際測試的Setup。使用到的儀器有網(wǎng)絡分析儀，高阻抗FET探頭。和功耗分離器。為什么不用示波器呢？這是有原因的。

由于運放的輸入電容通常是小于10pF的。示波器的探筆的電容通常是在10pF左右。如果用示波器探筆去測量運放的輸入電容根本就無法測準。因此需要選用電容小于1pF的，高阻抗FET探頭如Tektronix® P6245。

下面簡要介紹一下測試方法：

（1）首先要測試未安裝運放時PCB的雜散電容，網(wǎng)絡分析儀的測試結果讀出-3d頻點f1。并計算出雜散電容：

（2）在電路中安裝上運放，然后用網(wǎng)絡分析儀測試出-3dB頻點f2。并計算出運放輸入電容與雜散電容的和：

（3）如果我們選取的串聯(lián)電阻遠小于運放的共模電阻，則可以看作Rth1=Rth2。則此時上式可以寫為：

這樣，求差，就可以計算出運放的輸入電容了。