2016年1月18日，中國上海，上海微技術工業研究院（SITRI）作為致力于“超越摩爾”半導體技術及物聯網應用研發和產業化的協同創新中心，宣布與美國國家儀器公司（National Instruments ，簡稱NI）簽署合作，聯合成立“射頻及微波芯片（RFIC/MMIC）測試技術聯合實驗室”，通過與在該領域測試技術擁有深厚積淀的NI合作，進一步提升上海微技術工研院的研發能力，引領我國RFIC/MMIC 測試技術邁向國際化水平。

       雙方聯合成立的“RFIC/MMIC測試技術聯合實驗室”將專注于射頻及微波芯片測試技術的研究和開發，進一步推動該領域的集成測試與研發工作，包括物聯網通信領域的高性能、高集成度射頻前端通信產品研發，微波毫米波汽車雷達前端芯片的設計開發。同時，雙方將在科學研究、技術創新、人才培養等諸多方面展開緊密合作。根據合作協議，上海微技術工業研究院將負責聯合實驗室的建設管理工作。

       上海微技術工研院一直以來積極推進科研體制改革與創新，通過與業內領先企業的緊密合作，進一步推動RFIC/MMIC 集成測試與研發工作。此次與NI的合作意味著上海微技術工研院在測試技術領域又邁出了重要一步。聯合實驗室的成立進一步確立了工研院和NI在射頻及微波芯片測試技術領域的國內領先地位，聯合實驗室不僅具備科學價值，其實驗成果在生產領域同樣具備廣泛的應用價值。

       “NI在RFIC/MMIC測試技術領域的成就有目共睹，”上海微技術工研院總裁楊瀟表示，“和NI合作成立聯合實驗室，有助于進一步提升上海微技術工研院的測試技術和研發能力。雙方在多項領域緊密合作，相互裨益，共同推動未來測試技術領域的不斷創新與發展。”

       美國國家儀器中國區銷售總監項曉峰表示：“NI的RF產品和解決方案可應用于從設計到測試等一系列過程，上海微技術工研院提供全方位的RF研發和產業化解決方案及物聯網生態系統，本次合作有助于NI在中國市場的發展。”