5th October 2016 – 半導體技術的持續發展帶來了更復雜、功能集成度更高的器件。因此，現在有許多不同的參數需要被測試，并且整個開發和生產過程中的每一個階段都需要用到不同種類的儀器。這在以方便、經濟實惠和無風險的方式尋找這些物品的貨源時，會有嚴重影響。針對這些動態，Microlease公司剛剛推出了其半導體工具箱。

　　這種極為靈活的多方面測試解決方案，可以讓半導體制造商、代工廠和設計公司來處理測試和驗證活動的每個方面——從最初的研發，直到設計測試、原型測試和最終的生產測試。客戶可以選擇一套最適合自己需求的采購包，包括硬件、軟件和探測元件等。其可以是短期租用、長期租賃或是購置新的或二手設備。萬一所需的測試框架在任何時候發生變化，租來的物品可以很容易地升級或用其他設備交換。

　　下面是Microlease現已上市的半導體工具箱所包括的幾個方面：

　　·電源測試——顯然，半導體行業所面臨的一個主要挑戰是控制IC的功耗。這樣做意味著集成了這些IC的最終產品可以有較低的功耗，因此可從更長的電池壽命中受益（在消費電子產品的情況下），或能夠獲得更高的節能等級（與家用電器有關）。此外，電源技術的進步實現了更少的散熱，因此相應的散熱管理可以得到縮減（由此可以得到系統成本和空間利用率上的優勢）。Microlease現有的許多租用/租賃/采購選項中，包含了一套廣泛的電源和電源測試解決方案組合，例如是德科技的B1500參數分析儀（具有100μs采樣率）和吉時利/泰克26XX系列源表等。

　　·射頻IC測試——隨著新無線標準的引入，例如LTE Advanced Pro、5G和802.11ax，以及下一代增強RF性能的技術，例如包絡跟蹤（ET）和數字預失真（DPD），測試工程團隊的壓力比以往任何時候都要更大。他們必須找到更有效的方法來使測試時間盡可能地縮短，并保持高吞吐量，而不會產生額外的成本或犧牲精度。Microlease針對射頻測試用途提供的工具當中包含是德科技N9040B信號分析儀（帶寬高達50GHz，無雜散動態范圍高達78dBc）和E8267D高性能信號發生器（配置范圍廣泛）。

　　·設計測試——示波器構成了幾乎所有半導體測試程序的基礎。Microlease由于其全面的示波器產品，能夠為客戶提供針對其特定技術和預算標準全面優化的解決方案。這包括標準的模擬和數字型號，一直到高性能40GHz型號。混合信號設備（即示波器與邏輯分析儀相結合的產品）和混合域設備（即示波器加上一個內置頻譜分析儀）也包括在內。

　　·物理層測試——確保IC的物理參數達到預期規格，常常需要使用帶時域反射計（TDR）功能的RF網絡分析儀。Microlease為這種設備從領先制造商儲備了一套廣泛的產品組合。在這些產品中包括羅德與施瓦茨的4端口67GHz ZVA-67及是德科技的50GHz PNA-X系列產品。

　　“隨著每年的IC出貨量逼近10億大關，業界使用更小的架構，諸如GaN和SiC的新工藝的出現，以及MEMS器件進一步的激增，半導體產業提出了比以往任何時候都更嚴格的測試要求。”Microlease公司營銷總監George Acris表示，“以我們專業的應用支持為后盾，通過Microlease庫存的力度和深度，當談到以盡可能最經濟靈活的方式訪問其所需的先進測試技術時，擺在專業測試人員面前的幾乎是無限的范圍。此外，這在具體實現時，可以無需關心交貨時間延長、設備淘汰，或因維修或校準所產生的隱性成本。”