文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A
DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.212235
中文引用格式： 鄧玉清，牛洪軍. C-R型多通道10 bit SAR-ADC設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用，2022，48(7)：44-48.
英文引用格式： Deng Yuqing，Niu Hongjun. A design of 10 bit C-R multi-channel SAR-ADC[J]. Application of Electronic Technique，2022，48(7)：44-48.
0 引言
Flash A/D轉(zhuǎn)換器滿足高速高精度，可以實(shí)現(xiàn)GS/s的水平，主要用于軍工設(shè)計(jì)，例如雷達(dá)、衛(wèi)星通信等[1]。ΣΔA/D轉(zhuǎn)換器滿足低速高精度，主要用于音頻領(lǐng)域。流水線A/D轉(zhuǎn)換器滿足高速高精度，可以實(shí)現(xiàn)500 MS/s水平，主要應(yīng)用于高速儀表、視頻領(lǐng)域、網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。積分型A/D轉(zhuǎn)換器滿足中等速度中等精度，主要用于低速儀表。逐次逼近ADC(SAR ADC)滿足中等速度中等精度，并且具有功耗低、面積小、復(fù)雜度低、易于集成SoC等優(yōu)勢(shì)，被廣泛應(yīng)用在數(shù)據(jù)采集、工業(yè)控制[1-2]。
提高轉(zhuǎn)換速率可以通過(guò)增加比較器個(gè)數(shù)、采用異步控制等，但往往伴隨功耗和面積的更多開(kāi)銷。隨著位數(shù)增加，傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的DAC面積呈指數(shù)增加，可以改變分段結(jié)構(gòu)來(lái)降低面積。為了降低失調(diào)，許多文章提到采用全差分結(jié)構(gòu)配合混合切換[3]，然而相比單端結(jié)構(gòu)會(huì)消耗更大的面積和功耗。在降低功耗上，有人通過(guò)采用動(dòng)態(tài)比較器，但動(dòng)態(tài)比較器帶來(lái)更大的失調(diào)，需要更為復(fù)雜的修調(diào)算法補(bǔ)償[4]。
綜上，本文采用CR分級(jí)、溫度計(jì)碼、自舉開(kāi)關(guān)、前置放大技術(shù)克服如上提到的缺點(diǎn)。
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作者信息：
鄧玉清1，牛洪軍2
(1.中科芯集成電路有限公司，江蘇 無(wú)錫214035；2.無(wú)錫翼盟電子科技有限公司，江蘇 無(wú)錫214035)
