文獻標(biāo)志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223110
中文引用格式： 王于波，胡毅，關(guān)媛，等. 高精度高擺幅多工位ADC測試系統(tǒng)設(shè)計[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(4)：44-51.
英文引用格式： Wang Yubo，Hu Yi，Guan Yuan，et al. Design of high precision and high swing multi-site ADC test system[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(4)：44-51.
0 引 言
電力監(jiān)控系統(tǒng)依賴于對瞬時電流、電壓信號的測量實現(xiàn)電網(wǎng)線路或電力設(shè)備運行狀態(tài)的采集，從而得以對電網(wǎng)運行狀態(tài)進行實時監(jiān)控。這種測量通常是通過模數(shù)變換器(ADC)采集電流變壓器(CT)和電壓變壓器(PT)的輸出來完成的，而CT或PT典型的輸出為±5 V或±10 V。因此，電力及工業(yè)領(lǐng)域高精度ADC集成芯片測試通常需要能夠滿足高達±10 V甚至以上的高擺幅信號進行測試。而目前主流的自動測試設(shè)備(ATE)，其模擬波形發(fā)生模塊測試信號輸出幅度都達不到±5 V的輸出范圍，更別說高達±10 V甚至以上；另外，ATE設(shè)備通用的DPS電源板卡供電范圍通常也在±7 V以內(nèi)。
雖然目前ATE設(shè)備難以滿足±10 V甚至以上的高擺幅測試信號輸出要求，但市場上已有主流ATE系統(tǒng)，如Advantest公司的V93000、Teradyne公司的Ultraflex等SoC測試系統(tǒng)設(shè)備[7-10]，功能強大、性能穩(wěn)定，并已形成一套穩(wěn)定的測試程序開發(fā)流程和成熟規(guī)范的市場渠道，設(shè)備提供商可對設(shè)備的維護提供穩(wěn)定的支持，從而為集成芯片產(chǎn)品的量產(chǎn)提供穩(wěn)定保障，避免芯片量產(chǎn)中可能出現(xiàn)的風(fēng)險。因此，在現(xiàn)有ATE系統(tǒng)基礎(chǔ)上，通過開發(fā)項目所需的外加模塊或器件以補充現(xiàn)有ATE測試系統(tǒng)性能或成本的不足，同時，又充分利用其強大功能、成熟開發(fā)流程、穩(wěn)定的性能及維護支持，將是一種比較合理的解決方案。
本文正是基于這樣的需求和思路，為了滿足面向智能電網(wǎng)及其他工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域需要高輸入擺幅高精度ADC測試信號的需求，開發(fā)了一套基于現(xiàn)有主流V93000 ATE測試系統(tǒng)的最大輸出信號峰峰值可高達29 V以上的ADC測試系統(tǒng)。
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作者信息：
王于波1，胡毅1，關(guān)媛1，王琨1，李大猛1，肖鵬程2
（1.北京智芯微電子科技有限公司， 北京 102200；2.復(fù)旦大學(xué)專用集成電路與系統(tǒng)國家重點實驗室， 上海 201203）
