中文引用格式： 陶青平，沈婧. 基于UVM和C語(yǔ)言驗(yàn)證JTAG調(diào)試協(xié)議的研究與實(shí)現(xiàn)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用，2023，49(10)：112-117.
英文引用格式： Tao Qingping，Sheng Jing. Design and implementation for JTAG protocol test based on UVM and C[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(10)：112-117.
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隨著集成電路工藝的快速發(fā)展，芯片的研究設(shè)計(jì)周期亦在不斷縮短[1]。四線制的JTAG接口調(diào)試依然是大多數(shù)芯片設(shè)計(jì)采用的調(diào)試手段。JTAG協(xié)議功能的好壞很大程度上決定了流片回來(lái)后的芯片是否具有可調(diào)試狀態(tài)。不同芯片的JTAG協(xié)議不盡相同，基于TestBench或者原型驗(yàn)證的方式，在驗(yàn)證JTAG協(xié)議上存在著驗(yàn)證效率低下、可移植性差或者無(wú)法完全復(fù)制芯片的JTAG功能，這對(duì)JTAG協(xié)議驗(yàn)證調(diào)試提出了巨大的挑戰(zhàn)。眾所周知，通用驗(yàn)證方法學(xué)UVM在IC驗(yàn)證領(lǐng)域得到了全面廣泛的運(yùn)用[2-3]，其所具有的封裝、繼承、面向?qū)ο蟮冗@些優(yōu)點(diǎn)，并且包含大量功能全面的組件和基類(lèi)，同時(shí)又擁有factory、config、TLM等機(jī)制[4-8]，使得其具有良好的移植特性。而C語(yǔ)言作為一種悠久且優(yōu)秀的語(yǔ)言，編寫(xiě)測(cè)試用例較為便利。
綜合二者的優(yōu)勢(shì)，對(duì)比傳統(tǒng)的驗(yàn)證方式，方案中驗(yàn)證JTAG協(xié)議方式猶如上位機(jī)IDE通過(guò)JTAG仿真器調(diào)試芯片一樣便利。C語(yǔ)言編程可封裝大量函數(shù)供驗(yàn)證人員調(diào)用，利于僅熟悉C語(yǔ)言編程的開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證人員一同參與到驗(yàn)證JTAG調(diào)試協(xié)議中。更有甚者IDE設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)亦可同步進(jìn)行開(kāi)發(fā)。通過(guò)該種方法來(lái)驗(yàn)證JTAG功能，明顯優(yōu)于依賴(lài)FPGA原型驗(yàn)證或者設(shè)計(jì)驗(yàn)證人員寫(xiě)TestBench來(lái)驗(yàn)證其功能的方法。
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作者信息：
陶青平，沈婧
（中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所，江蘇 無(wú)錫 214035）
