| NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System | |
| 所屬分類:解決方案 | |
| 上傳者:wwei | |
| 文檔大小:5016 K | |
| 標簽: NI HIL測試 硬件在環測試 | |
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| 文檔介紹:NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在環測試(Hardware in the Loop, HIL),是指將真的控制器連接仿真的被控對象(用實時仿真硬件來模擬),以一種高效、低成本的方式對控制器進行全面測試。 乘著智能汽車的風口,HIL(硬件在環測試)被業界所熟知。更早以前,HIL測試主要用于航空航天行業,隨著醫療、消費電子行業越來越多使用嵌入式軟件,HIL測試逐漸在這些行業普及開來。 | |
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