| DSO中的內(nèi)插技術 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：bixd | |
| 文檔大小：1278 K | |
| 標簽： 測試測量儀器 | |
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| 文檔介紹：內(nèi)插是當前數(shù)字示波器中的一項重要功能。DSO的主要用途是分析和查看模擬波形。為此，DSO以某種有限采樣率對波形采樣，相對于時間生成電壓矢量。由于這個矢量代表著一個樣點集(而不是實際平滑的模擬波形)，因此通常需要在實際采集點之間生成預測的樣點，來修改采集的波形。在實際波形樣點之間生成樣點的過程稱為內(nèi)插。在正常操作時，內(nèi)插可以得到一個采樣率較高的、更接近被分析模擬波形近似值的波形。本文將討論兩種最流行的內(nèi)插方法，解釋其基本工作方式。然后，本文將介紹怎樣保證良好的內(nèi)插結果及怎樣確定什么時候適合采用內(nèi)插。本文使用部分簡單的試驗，比較了三種高端示波器的內(nèi)插性能。最后，本文比較了內(nèi)插操作的差異。 | |
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