| ADI測(cè)試與儀器儀表IC解決方案 (2010年) | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：ADI | |
| 文檔大小：2102 K | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：主要內(nèi)容：ADC驅(qū)動(dòng)器提供快速壓擺率； 16位ADC驅(qū)動(dòng)器簡(jiǎn)化信號(hào)調(diào)理； 電流輸出DAC無(wú)與倫比的速度、精度與低功耗組合優(yōu)勢(shì) ； 精密儀器設(shè)備依賴于可編程模數(shù)DDS； ADC簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)； 測(cè)試和儀器選型指南； 實(shí)驗(yàn)室電路: 經(jīng)過(guò)測(cè)試的設(shè)計(jì)資源； 隔離式RS-485收發(fā)器提供集成解決方案； 高性能ADC功耗僅為15 mW； 儀器儀表應(yīng)用: 增強(qiáng)的系統(tǒng)級(jí)連接能力 ； 集成信號(hào)調(diào)理簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)節(jié)省功耗。 | |
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