| 基于NiosII的自由落體分析儀的設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類：參考設(shè)計(jì) | |
| 上傳者：aet | |
| 文檔大?。?span>529 K | |
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| 文檔介紹：給出了一種研究自由落體運(yùn)動(dòng)的新方法，提出了一種以Altera NiosII的SoPC為核心處理單元的自由落體分析儀的設(shè)計(jì)方案，并介紹了分析儀的軟硬件設(shè)計(jì)過(guò)程。該自由落體分析儀可提高測(cè)量精度，使復(fù)雜的系統(tǒng)在單片F(xiàn)PGA上實(shí)現(xiàn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，各項(xiàng)指標(biāo)均已經(jīng)達(dá)到設(shè)計(jì)要求。 | |
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