元器件一般分為軍品，工業(yè)級，民用級這三個級別，市面流通基本都是工業(yè)級民用級，汽車級很少用于區(qū)分級別的，大概介于工業(yè)級和軍品之間吧。有的廠家會在型號做出區(qū)別，比如MAXIM，尾綴CWE和EWE就分別代表工業(yè)和民用級。

　　不同級別的基本也是通用的，卻別還是在于耐久的問題吧，因為大多型號查到的pdf資料顯示的參數(shù)都是一樣的，而且基本都能替換使用，這也導致了市面一些翻新貨拿民用替換工業(yè)，工業(yè)替換軍品的情況。

　　汽車上也有些元器件是用工業(yè)級的，怎么解釋這個問題呢。打個比方吧，工業(yè)級別的東西要好東西來的，好在那里呢？比如耐壓 壽命 性能，穩(wěn)定性 可靠性，都是最好的的了。當然單價也是最高的，民用級別的是沒的比的了。

　　工業(yè)級工作溫度范圍-20-85度，汽車級屬于民用級，元件工作溫度0-60度，

　　不過一般區(qū)別是不是很大，市場上很多所謂的工業(yè)級的都是民用級打字改成的。

　　工業(yè)級器件與汽車級器件的主要區(qū)別主要在于工作溫度范圍，一般而言，工業(yè)級器件的工作溫度范圍為-40℃~+85℃，汽車級器件則是-40℃~+125℃。然而，二者的區(qū)別不僅限于此，應(yīng)該說汽車級器件比工業(yè)級器件有著更好的性能、更強的溫度適應(yīng)能力和抗干擾能力（包括抵抗溫度極限、溫差變化的能力以及其它可靠性等），調(diào)研發(fā)現(xiàn)，有些廠家的工業(yè)級器件工作溫度范圍也能達到-40℃~+125℃（如ADI），那么汽車級器件的優(yōu)勢就體現(xiàn)在它的性能和可靠性上，而這兩者之間的主要差異就體現(xiàn)產(chǎn)品的整個生產(chǎn)、管控以及測試環(huán)節(jié)。?

　　一、標準?

　　汽車級器件是在工業(yè)級器件的基礎(chǔ)上，有著一套更嚴格的標準，ISO/TS?16949標準和AEC系列標準已經(jīng)成為IC企業(yè)進入汽車產(chǎn)業(yè)鏈的基本條件。?

　　1、ISO/TS?16949?

　　ISO/TS?16949標準是以ISO?9001：2000為基礎(chǔ)開發(fā)的針對汽車行業(yè)質(zhì)量系統(tǒng)管理標準，其中PPAP（Production?Parts?Approval?Process，生產(chǎn)件批準程序）要求汽車級器件需擁有詳細完整的數(shù)據(jù)和文件，并在PPAP的文件中列出芯片制造商所需采取的生產(chǎn)和質(zhì)量保證程序。PPAP用來確定供貨商在零件實際量產(chǎn)的過程已經(jīng)正確理解了客戶的工程設(shè)計記錄和規(guī)格中的所有要求，并評估其是否具有持續(xù)滿足這些要求的潛在能力，從而保證器件的質(zhì)量。?

　　2、AEC系列標準?

　　汽車級器件主要遵循的AEC（AutomoTIve?Electronics?Council，汽車電子委員會）系列標準有AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q001/Q002/Q003等。?

　　AEC-Q100是針對主動零件（微控制器與集成電路等）的，主要在于預防產(chǎn)品各種可能發(fā)生的狀況或潛在的失誤機會，引導供貨商在開發(fā)的過程中就能生產(chǎn)出符合此規(guī)范的芯片。AEC-Q100對每一個申請的個案進行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，即確認制造商所提出的產(chǎn)品數(shù)據(jù)表、使用目的、功能說明等是否符合當初宣稱的功能，以及在多次使用后是否能始終如一。此標準的最大目標是提高產(chǎn)品的良品率，這對供應(yīng)商來說，無論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率或者成本上都是很大的挑戰(zhàn)。AEC-Q100詳細規(guī)范了對于IC器件的各項要求，也代表了汽車級器件制造商對產(chǎn)品安全的要求。

　　AEC-Q100規(guī)范了7大類共41項的測試：

　　（1）群組?A-?加速環(huán)境應(yīng)力測試（ACCELERATED?ENVIRONMENT?STRESS?TESTS）?共?6?項測試，包含：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL。?

　　（2）群組?B-?加速生命周期模擬測試（ACCELER-ATED?LIFETIME?SIMULATION?TESTS）?共?3?項測試，包含：HTOL、ELFR、EDR。?

　　（3）群組?C-?封裝組裝完整性測試（PACKAGE?ASSEMBLY?INTEGRITY?TESTS）共?6?項測試，包含：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI。?

　　（4）群組?D-?晶片制造可靠性測試（DIE?FABRICA-TION?RELIABILITY?TESTS）共?5?項測試，包含：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM。?

　　（5）群組?E-?電性驗證測試?（ELECTRICAL?VERI-FICATION?TESTS）?共?11?項測試，包含：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER。?

　　（6）群組?F-?缺陷篩選測試?（DEFECT?SCREENING?TESTS）共?11?項測試，包含：PAT、SBA。?

　　（7）群組?G-?腔封裝完整性測試?（CAVITY?PACK-AGE?INTEGRITY?TESTS）?共?8?項測試，包含：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV。?

　　AEC-Q101標準針對對象為離散組件，包括了分離半導體原件的應(yīng)力測試（包涵測試方法）。?

　　AEC-Q001/Q002/Q003標準主要為一些指導性原則。AEC-Q001主要提出參數(shù)零件平均測試（Param?etric?Part?Average?Testing，PPAT）方法，用來檢測外緣半導體組件異常特性的統(tǒng)計方法，將異常組件從所有產(chǎn)品中剔除。AEC-Q002是基于統(tǒng)計原理，屬于統(tǒng)計式良品率分析，為組件制造商提供使用統(tǒng)計技巧來檢測和移除異常芯片組件的婦女廣發(fā)，讓制造上能在晶圓及裸晶階段就能及早發(fā)現(xiàn)錯誤并將之剔除。AEC-Q003是針對芯片茶農(nóng)的典型表現(xiàn)所提出的特性化指導原則，用來生成產(chǎn)品、制程或封裝的規(guī)格與數(shù)據(jù)表，目的在于手機組件、制程的數(shù)據(jù)并進行分析，以了解此組件與制程的屬性、表現(xiàn)和限制，和檢查這些組件或設(shè)備的溫度、電壓、頻率等參數(shù)特性表現(xiàn)。?

　　在器件生產(chǎn)的每一環(huán)節(jié)，都會有相應(yīng)的對工藝質(zhì)量的檢驗。同時，在器件的生產(chǎn)完成后，會進行對器件的一整套的測試篩選。工業(yè)級器件的測試一般是在室溫下對產(chǎn)品手冊中顯示的各項指標進行檢驗，那么汽車級器件在完全檢驗各項指標的同時，還會在-40~+125℃或等效溫度環(huán)境進行檢驗，同時汽車級器件還會按照AEC?Q100標準進行檢驗，這就極大地提高產(chǎn)品的良品率和產(chǎn)品一致性。

　　二、選材與設(shè)計?

　　通常，器件在生產(chǎn)過程中用到的主要材料有：晶圓（Wafer）、引線框架（Lead?Frame）、銀漿（Epoxy）、綁定線（Bond?wire）、塑封材料（Mold?Compound）。?

　　汽車級器件在材料的選擇和設(shè)計上，主要的方式如下：?

　　（1）與工業(yè)級器件的選材和設(shè)計無差別（器件差異性體現(xiàn)在后續(xù)工藝以及測試等環(huán)節(jié)）；?

　　（2）考慮到汽車級器件更好的溫度適應(yīng)能力，使用更優(yōu)質(zhì)的材料或者更好的封裝設(shè)計，如使用陶瓷封裝材料、增加散熱片設(shè)計等。?

　　根據(jù)調(diào)研ADI和TI，在選材和設(shè)計以上兩種方式都有存在，而且沒有明顯傾向性那種更好，一般根據(jù)產(chǎn)品需求而定。