足不出戶吸收干貨or現(xiàn)場體驗動手實操？
這次OpenLab Day的參與姿勢由你來定
繼第一期的火熱與意猶未盡之后，NI OpenLab第二期活動將于8月26日和大家見面啦！這期OpenLab Day中，NI和孤波專家攜Cypress、NXP精彩應用案例，還有桌面式ATE級數(shù)字Pattern儀器動手實踐課程來到NI直播間。
在這個炎炎夏日，你除了可以選擇足不出戶在線上與技術專家們遠程交流，更可以選擇來到NI上海辦公室現(xiàn)場參與OpenLab Day，順便還可以參觀Open Lab哦！趕快掃碼報名選擇你的參與姿勢吧！
注：現(xiàn)場參與地點為NI上海辦公室，坐標張江高科技園區(qū)內，由于場地限制，線下參與名額還請以報名確認信為準哦！
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活動時間
9月2日 14:00 ~ 16:15
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日程安排
14:00 ~ 15:00 SoC和MCU數(shù)字接口驗證及Cypress、NXP案例分析
15:00 ~ 16:00 桌面式ATE級數(shù)字Pattern儀器驗證動手實踐
16:00 ~ 16:15 技術答疑及抽獎
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精彩內容搶先看
Topic 1: SoC和MCU數(shù)字接口驗證及Cypress、NXP案例分析
NI & 孤波
概述：隨著芯片應用場景的多變，更多設計公司采用集成IP的方式進行功能整合，這樣更好地利用成熟IP，如電源管理、ADC、數(shù)字接口等，這樣可大幅縮短芯片設計周期，新品上市時間也將大幅提前，產品形態(tài)也將更加的多樣。但是如何在流片后的早期樣片上發(fā)現(xiàn)漏洞并地進行特性分析，如何使用更加高效的方法進行驗證。本次直播活動，NI攜手合作伙伴為各位現(xiàn)場解析案例，看看NI及合作伙伴是如何幫助SoC及MCU企業(yè)進行高效post-silicon驗證的。
Topic 2: 桌面式ATE級數(shù)字Pattern儀器驗證動手實踐
NI
概述： 在實驗室驗證階段使用大型的ATE進行Shmoo、時序的驗證并不是一個成本最優(yōu)的方案，而使用傳統(tǒng)的測試測量儀器又無法很好提供相對應的功能，NI基于這一需求所設計的基于向量的數(shù)字Pattern儀器將使用緊湊型的PXI結構，在實驗室的環(huán)境中即可滿足傳統(tǒng)ATE的向量調試和Debug，Scan Pattern調試等工作；同時搭配模擬和接口PXI儀器，實現(xiàn)針對接口的功能級、系統(tǒng)級的驗證工作。
想具體了解PXI數(shù)字 Pattern 儀器的強大功能么？在我們這一期OpenLab Day，資深應用工程師會為大家進行現(xiàn)場動手實踐與分享哦。
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分享嘉賓
王孜
上海孤波科技有限公司資深應用工程師
王孜在RF原型開發(fā)與自動化測試領域有豐富經驗，2019年加入上海孤波科技有限公司，目前主要負責實驗室自動化測試的標準化與推廣工作。
白爽
NI 半導體測試應用工程師
大客戶支持工程師，分選機通訊專家，熟悉半導體產線測試開發(fā)及維護，致力于半導體模塊化測試解決方案的研究。
足不出戶吸收干貨or現(xiàn)場體驗動手實操？
趕快選擇你喜歡的參與形式報名參加活動吧！
注：現(xiàn)場參與地點為NI上海辦公室，坐標張江高科技園區(qū)內，由于場地限制，線下參與名額還請以報名確認信為準哦！