西班牙巴塞羅那，2021 年 6 月 28 日，2021 世界移動(dòng)通信大會(huì)——深圳捷揚(yáng)微電子宣布已采用羅德與施瓦茨的測(cè)試解決方案進(jìn)行 UWB 物理層測(cè)試。羅德與施瓦茨為研發(fā)、認(rèn)證和生產(chǎn)都開(kāi)發(fā)了UWB 測(cè)試解決方案，包括飛行時(shí)間 (ToF) 和到達(dá)角 (AoA) 測(cè)量以及設(shè)備校準(zhǔn)程序等要素。其中，羅德與施瓦茨的 R&S CMP200 無(wú)線通信測(cè)試儀是解決生產(chǎn)和研發(fā)中 UWB 測(cè)試挑戰(zhàn)的理想選擇。它可在同一臺(tái)儀器上集成信號(hào)分析儀和信號(hào)發(fā)生器的功能。結(jié)合羅德與施瓦茨用于無(wú)線生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試的WMT 軟件，以及種類豐富的屏蔽箱組合，R&S CMP200為傳導(dǎo)和輻射模式下的發(fā)射機(jī)、接收機(jī)、ToF 和 AoA 測(cè)量提供符合 IEEE 802.15.4a/z 規(guī)范的完整解決方案。R&S SMM100A作為一款頻率高達(dá) 44 GHz的中端矢量信號(hào)發(fā)生器，在同類產(chǎn)品中是唯一能夠提供最大 1 GHz射頻調(diào)制帶寬的儀表，從而滿足UWB設(shè)備在研發(fā)和生產(chǎn)中 所用寬帶信號(hào)的生成要求。

深圳捷揚(yáng)微電子正在為 UWB 開(kāi)發(fā)一套完整的 SoC 解決方案，包括射頻收發(fā)器、基帶、集成協(xié)議和集成 MCU。射頻收發(fā)器具有完全集成的接收機(jī)和發(fā)射機(jī)，配備片上天線開(kāi)關(guān)和功率放大器，發(fā)射功率超過(guò) 10 dBm，可獲得更理想的測(cè)距距離。由于不需要外部開(kāi)關(guān)/功率放大器/巴倫/變壓器，可以大大降低 BoM 成本和尺寸，這對(duì)于空間通常較為有限的移動(dòng)電話和可穿戴設(shè)備/標(biāo)簽/數(shù)字鑰匙的應(yīng)用至關(guān)重要。該 SoC 支持多達(dá) 4 根天線用于3D 到達(dá)角 (AoA)，可立即區(qū)分前后角度方向。該 SoC 內(nèi)嵌 ARM Cortex-M CPU 處理器，在 SRAM 和非易失性存儲(chǔ)器 (NVM) 內(nèi)運(yùn)行軟件和協(xié)議。該 SoC 在需要時(shí)可作為獨(dú)立的應(yīng)用處理器運(yùn)行，同時(shí)提供 SPI、I2C、UART 和 GPIO 等多種接口，以便與外部處理器或傳感器連接。該 SoC 還內(nèi)嵌了 AES-128 和 AES-256，作為 UWB 安全測(cè)距應(yīng)用，以及獨(dú)立數(shù)據(jù)安全和隱私保護(hù)應(yīng)用安全元件的一部分。該 UWB SoC 利用先進(jìn)的 22 nm RF ULL 工藝技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了極低功耗和緊湊尺寸，是可穿戴設(shè)備/標(biāo)簽/數(shù)字鑰匙應(yīng)用的理想選擇。

自 2020 年第四季度以來(lái)，深圳捷揚(yáng)微電子一直使用羅德與施瓦茨的 UWB 測(cè)試解決方案完成 IEEE 和 FiRa 聯(lián)盟等組織定義的測(cè)試主題，測(cè)試用例涵蓋 BPRF（基礎(chǔ)脈沖重復(fù)頻率）和 HPRF（高脈沖重復(fù)頻率）。深圳捷揚(yáng)微電子CEO Bill Zhang 先生表示：“UWB 將成為一種隨處可見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)無(wú)線技術(shù)，因?yàn)?nbsp;UWB 提供了前所未有的可靠、安全、準(zhǔn)確、快速和省電的測(cè)距和定位能力。羅德與施瓦茨的 UWB 測(cè)試儀解決方案為我們完成 UWB 一致性和互操作性測(cè)試提供了極大幫助，確保我們的 UWB 芯片能夠得到市場(chǎng)各個(gè)領(lǐng)域和供應(yīng)商的采用。我們提供的 UWB 芯片以及芯片組將會(huì)充分滿足市場(chǎng)需求，促進(jìn) UWB 的市場(chǎng)滲透并方便使用。”羅德與施瓦茨無(wú)線通信市場(chǎng)副總裁 Alexander Pabst 表示：“羅德與施瓦茨認(rèn)識(shí)到安全可靠的 UWB 技術(shù)具有強(qiáng)大的力量，也很高興為全球的行業(yè)參與者提供我們一流的測(cè)試解決方案。我們與 FiRa 密切合作，將R&S CMP200 驗(yàn)證為物理層測(cè)試平臺(tái)。”