LVDS是低壓差分信號(hào)的簡稱，由于其優(yōu)異的高速信號(hào)傳輸性能，目前在高速數(shù)據(jù)傳輸領(lǐng)域得到了越來越多的應(yīng)用。其典型架構(gòu)如下：
一般LVDS的傳輸系統(tǒng)由FPGA加上LVDS的Serdes芯片組成， LVDS的Serializer芯片把FPGA的多路并行數(shù)據(jù)通過時(shí)分復(fù)用的方法變成較少路數(shù)、較高速率的串行LVDS信號(hào)進(jìn)行傳輸，接收端的de-Serializer芯片再把接收到的串行LVDS信號(hào)解成多路并行數(shù)據(jù)。其好處在于FPGA通過外掛的LVDS芯片可以方便可靠地以高速率把內(nèi)部數(shù)據(jù)傳輸出去，如NS、TI等公司大量提供這種LVDS的Serdes芯片。
對(duì)于LVDS系統(tǒng)的測(cè)試，主要涉及以下幾個(gè)方面：
1/ FPGA內(nèi)部邏輯和并行接口測(cè)試，用于保證數(shù)據(jù)處理和控制的正確性；
2/ 高速串行LVDS信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，用于保證LVDS信號(hào)的正確傳輸；
3/ 高速互連電纜和PCB的阻抗測(cè)試，用于保證傳輸鏈路的信號(hào)完整性；
4/ 系統(tǒng)誤碼率測(cè)試，用于驗(yàn)證系統(tǒng)實(shí)際傳輸?shù)恼`碼率；
下面就幾個(gè)方面分別介紹：
1/ FPGA內(nèi)部邏輯和并行接口測(cè)試，用于保證數(shù)據(jù)處理和控制的正確性；
傳統(tǒng)上的FPGA內(nèi)部信號(hào)調(diào)試有2種方法：直接探測(cè)和軟邏輯分析儀的方案。
直接探測(cè)的測(cè)試方法:
是通過在邏輯代碼里定義映射關(guān)系，把內(nèi)部需要調(diào)試的信號(hào)映射到外部未使用的I/O管腳上，通過相應(yīng)PCB走線和連接器把這些I/O管腳的信號(hào)引出，再送給邏輯分析儀做信號(hào)測(cè)試和分析儀。
這種方法的好處是簡便直觀，可以利用邏輯分析儀的觸發(fā)和存儲(chǔ)功能，同時(shí)信號(hào)的時(shí)序關(guān)系都得到保留；但缺點(diǎn)在于FPGA內(nèi)部要探測(cè)的信號(hào)節(jié)點(diǎn)很多，而外部的未用I/O數(shù)量是有限的，因此調(diào)試完一組節(jié)點(diǎn)后需要修改邏輯代碼中的映射關(guān)系到另一組節(jié)點(diǎn)，并重新綜合、布線，當(dāng)工程比較復(fù)雜時(shí)綜合、布線等花的時(shí)間非常長，所以對(duì)于比較復(fù)雜的設(shè)計(jì)測(cè)試效率比較低。
軟邏輯分析儀的方案:
是FPGA廠家提供的一種測(cè)試方案，其原理是在FPGA邏輯代碼設(shè)計(jì)階段或綜合完成后在工程中插入一個(gè)軟邏輯分析儀的核，軟邏輯分析儀的核需要占用一定的塊RAM資源，可以用工作時(shí)鐘把內(nèi)部信號(hào)信號(hào)采集到塊RAM里，采完以后再通過FPGA的JTAG接口把塊RAM里的數(shù)據(jù)讀到外部PC上顯示波形。這種方案的好處是只需要外部PC就可以完成測(cè)試，不用占用額外I/O，同時(shí)如果代碼沒有變化的話可以不用重新綜合，但是使用也有一定的限制，比如會(huì)占用比較多塊RAM，記錄波形長度和觸發(fā)功能有限，由于內(nèi)部時(shí)鐘先作采樣造成信號(hào)的時(shí)序關(guān)系丟失等。
為了解決目前FPGA調(diào)試中面臨的問題，Agilent做為業(yè)界領(lǐng)先的測(cè)試儀器生產(chǎn)廠商，和業(yè)界領(lǐng)先FPGA廠商合作共同推出了動(dòng)態(tài)探頭的FPGA調(diào)試方案。動(dòng)態(tài)探頭的方案可以支持Agilent的邏輯分析儀，也可以支持混合信號(hào)示波器，比如Agilent的MSO9000系列.
下面以Xilinx的FPGA調(diào)試來舉例說明。動(dòng)態(tài)探頭的工作原理也是在FPGA設(shè)計(jì)階段用開發(fā)工具，比如Xilinx的Chipscope在FPGA代碼綜合完成后插入一個(gè)ATC2（Agilent Trace Core-2）的IP core，把內(nèi)部信號(hào)映射到ATC2 core的輸入端，然后布線映射生成bit文件下載到FPGA內(nèi)，整流程和軟邏輯分析儀的設(shè)計(jì)流程非常類似。
但是相對(duì)于軟邏輯分析儀的方案，這個(gè)core的功能相對(duì)簡單，基本功能相當(dāng)于一個(gè)可以被JTAG命令控制的多路復(fù)用器，因此其僅占用很少的邏輯布線資源。目前Agilent的邏輯分析儀以及9000系列示波器都是基于windows和PC平臺(tái)的，因此可以用邏輯分析儀或示波器的USB或并口來控制JTAG電纜完成bit文件下載和信號(hào)組的選擇。FPGA的I/O輸出的信號(hào)可以通過邏輯分析儀的探頭捕捉測(cè)量,FPGA強(qiáng)大的采樣、觸發(fā)和存儲(chǔ)功能可以支持非常復(fù)雜的信號(hào)分析。下面是一個(gè)調(diào)試的組網(wǎng)圖。
由于測(cè)試工程師可能要探測(cè)的信號(hào)已經(jīng)都事先送到了ATC2 Core的輸入端，因此再調(diào)試階段只需要在邏輯分析儀或混合信號(hào)示波器的操作界面里選擇不同組的信號(hào)即可直接把信號(hào)送出，當(dāng)完成一個(gè)模塊調(diào)試后不用再修改任何代碼和映射關(guān)系即可直接選擇另一個(gè)模塊的信號(hào)輸出進(jìn)行調(diào)試。由此可見，這種調(diào)試方法結(jié)合了以前兩種調(diào)試方法的優(yōu)點(diǎn)，把儀器強(qiáng)大的采樣、觸發(fā)、存儲(chǔ)功能和軟核的靈活性結(jié)合起來，在實(shí)現(xiàn)FPGA內(nèi)部信號(hào)有效探測(cè)同時(shí)大大提高了調(diào)試效率。
2/ 高速串行LVDS信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，用于保證LVDS信號(hào)的正確傳輸；
傳統(tǒng)的并行式數(shù)據(jù)通信，即多通道數(shù)據(jù)與時(shí)鐘分別傳送，往往因?yàn)閭鬏斅窂讲灰恢露a(chǎn)生建立與保持時(shí)間違反。當(dāng)速度增加的時(shí)候，準(zhǔn)確控制傳輸時(shí)延顯得異常的困難，因此今天新型的數(shù)據(jù)通信都已經(jīng)是串行了。從并行到串行的改變除了數(shù)據(jù)速率的提高以外，對(duì)于測(cè)試方法也提出了新的要求。
LVDS采用多對(duì)高速差分信號(hào)傳輸數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)速率可以從幾百M(fèi)bps至幾個(gè)Gbps。為了保證高速信號(hào)的傳輸，LVDS使用差分線提供雙向數(shù)據(jù)收發(fā)，因此可以用比較小的信號(hào)擺幅提供更高的傳輸速率，而且差分線本身具有更好的抗干擾能力和更小的EMI，可以支持更長的電纜傳輸。由于LVDS的信號(hào)速率比較高，因此要對(duì)LVDS信號(hào)進(jìn)行可靠的探測(cè)，對(duì)于示波器和探頭的要求也非常高，通常測(cè)量要求使用2.5G~4G帶寬的示波器。Agilent的DSO9000系列示波器由于具有很小的底噪聲和觸發(fā)抖動(dòng)，平坦的帶內(nèi)頻響特性和很小的Return Loss，因此非常適合于進(jìn)行象LVDS這樣的高速信號(hào)的測(cè)量。同時(shí)Agilent的DSO9000系列示波器還具有業(yè)內(nèi)最深的存儲(chǔ)深度（通道的內(nèi)存可以到1Gpts），適合用于復(fù)雜事件的記錄和分析。
高速串行LVDS信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的測(cè)試項(xiàng)目通常為：
1. 眼圖、模板測(cè)試
2. 抖動(dòng)分析
為了驗(yàn)證LVDS的信號(hào)質(zhì)量，通常會(huì)要求進(jìn)行眼圖、模板的測(cè)試，這就還需要借助Agilent的高速串行數(shù)據(jù)分析軟件，它可以靈活設(shè)置LVDS時(shí)鐘恢復(fù)所需要的鎖相環(huán)形狀及帶寬，還可以提供LVDS信號(hào)的眼圖和模板測(cè)試功能。對(duì)于模板測(cè)試失敗的波形，Agilent的DSO9000示波器還有一個(gè)非常獨(dú)特的功能：失效bit定位，即可以將模板測(cè)試的波形展開，看到造成模板測(cè)試的各個(gè)特定的bit，這對(duì)于定位問題的原因非常有用。下圖是個(gè)失效bit定位的例子。
DSO/MSO900系列的去嵌入功能對(duì)于LVDS的信號(hào)調(diào)試也非常有用。去嵌入（De-Embed）方法最早來源于網(wǎng)絡(luò)分析儀。網(wǎng)絡(luò)分析儀號(hào)稱儀器之王，其應(yīng)用范圍和測(cè)試精度是很多其它儀器無法比擬的。網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試精度之所以高，很大一方面在于網(wǎng)絡(luò)分析儀有一套非常成熟的校準(zhǔn)方法和理論，可以有效消除儀器內(nèi)部和測(cè)試附件所帶來的誤差。這種方法應(yīng)用在實(shí)時(shí)示波器里，可以用來消除測(cè)試電纜或夾具帶來的誤差或者評(píng)估測(cè)試電纜或夾具對(duì)信號(hào)的影響。如下例所示，去嵌入方法可以用來評(píng)估LVDS電纜對(duì)于信號(hào)的影響，其實(shí)際運(yùn)算結(jié)果和實(shí)測(cè)結(jié)果非常接近。
高速信號(hào)產(chǎn)生問題的原因很多時(shí)候都是由于抖動(dòng)造成的，LVDS信號(hào)出問題也有一半的原因都是由于時(shí)鐘的抖動(dòng)。時(shí)鐘和信號(hào)中抖動(dòng)的成因是很復(fù)雜的的，總的抖動(dòng)成分TJ中包含了確定性抖動(dòng)DJ和隨機(jī)抖動(dòng)RJ，而DJ和RJ又分別是由很多因素構(gòu)成。因此LVDS的測(cè)試中應(yīng)包含各抖動(dòng)分量的測(cè)量項(xiàng)目。LVDS要準(zhǔn)確測(cè)量TJ和DJ，需要借助于相應(yīng)的抖動(dòng)分析軟件。下圖是用9000示波器的EzJIt Plus抖動(dòng)分析軟件進(jìn)行抖動(dòng)分解的一個(gè)測(cè)試?yán)印?/p>
3/ 高速互連電纜和PCB的阻抗測(cè)試，用于保證傳輸鏈路的信號(hào)完整性；
在較低數(shù)據(jù)速率時(shí)，驅(qū)動(dòng)器和接收機(jī)一般時(shí)導(dǎo)致信號(hào)完整性問題的主要因素。以往人們通常把印刷電路板、連接器、電纜和過孔當(dāng)成是簡單的部件，稍加考慮或者無需考慮其他因素就可以很容易地把它們組成一個(gè)系統(tǒng)。現(xiàn)在，從邏輯電平0 到邏輯電平1 的數(shù)據(jù)上升時(shí)間已不到100 ps，當(dāng)這么高速的信號(hào)在傳輸線路上傳輸時(shí)會(huì)形成微波傳輸線效應(yīng)，這些傳輸線效應(yīng)對(duì)于信號(hào)的影響會(huì)更加復(fù)雜。很多系統(tǒng)內(nèi)的物理層有許多線性無源元件，它們會(huì)因阻抗不連續(xù)而產(chǎn)生反射，或者對(duì)于不同頻率成分有不同的衰減，因此作為互連的物理層特性檢驗(yàn)正變得日益關(guān)鍵。
一般用時(shí)域分析來描述這些物理層結(jié)構(gòu)的特征，為了獲得一個(gè)完整的時(shí)域信息，必須要測(cè)試反射和傳輸（TDR和TDT）中的階躍和脈沖相應(yīng)。隨著信號(hào)頻率的提高，通常還必須在所有可能的工作模式下進(jìn)行頻域分析，以全面描述物理層結(jié)構(gòu)的特征。S參數(shù)模型說明了這些數(shù)字電路所展示出的模擬特點(diǎn)，如不連續(xù)點(diǎn)反射、頻率相關(guān)損耗、串?dāng)_和EMI等。
傳統(tǒng)PCB板的阻抗測(cè)試方法不能完全描述信號(hào)經(jīng)過傳輸線路后的行為特點(diǎn)，因此對(duì)于這些高速傳輸線和連接器的分析也要把時(shí)域和頻域結(jié)合起來，采用更高級(jí)的分析方法，其中一種很有效的工具就是物理層測(cè)試系統(tǒng)(PLTS)。
物理層測(cè)試系統(tǒng)（PLTS）適合用于信號(hào)完整性分析。如下圖所示，PLTS 軟件引導(dǎo)用戶完成硬件設(shè)置、校準(zhǔn)和數(shù)據(jù)采集。時(shí)域反射計(jì)（TDR）和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）都可作為測(cè)量引擎，它們各自的校準(zhǔn)向?qū)⒃试S您采用先進(jìn)的校準(zhǔn)技術(shù)。它幫助您去除不需要的測(cè)試夾具效應(yīng)，比如電纜損耗、連接器不連續(xù)性和印制電路板材料的介電損耗。用PLTS器件數(shù)據(jù)庫通過許多有用方法觀看器件的性能特性, 可用Novel眼圖綜合引擎完成熟悉的時(shí)域分析(TDR 和TDT)。對(duì)于高速數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)，例如HDMI和串行ATA，由于高速數(shù)據(jù)的快上升時(shí)間沿會(huì)在背板通道內(nèi)產(chǎn)生微波傳輸線效應(yīng)，所以現(xiàn)在頻域分析已處于主導(dǎo)地位,因此我們經(jīng)常需要測(cè)試輸入差分插入損耗(SDD21)。PLTS提供的虛擬位圖發(fā)生器允許把用戶定義的二進(jìn)制序列或標(biāo)準(zhǔn)PRBS與測(cè)量數(shù)據(jù)相卷積而得到眼圖。此外，PLTS 還使用專利變換算法得到頻域和時(shí)域數(shù)據(jù)，正向和反向信號(hào)流，以及所有可能工作模式(單端、差分和模式轉(zhuǎn)換)中的傳輸和反射項(xiàng)。
在PLTS中，使用基于TDR的測(cè)試系統(tǒng)和基于VNA的測(cè)試系統(tǒng)都可以提供比較完整的信息，那么應(yīng)該選擇哪個(gè)系統(tǒng)呢？
許多信號(hào)完整性（SI）實(shí)驗(yàn)室都同時(shí)采用了這兩種系統(tǒng)。這兩種系統(tǒng)都有自己的優(yōu)勢(shì)，在某些要求得到最大限度的多功能性的場合，這兩套系統(tǒng)都可以適當(dāng)?shù)丶右允褂谩?/p>
TDR測(cè)試系統(tǒng)：
l 對(duì)于需要快速建立一階模型、而且希望測(cè)試設(shè)備容易使用和熟悉的工程師來說，基于TDR的測(cè)試系統(tǒng)可能是最佳選擇。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試系統(tǒng)：
l 基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）的測(cè)試系統(tǒng)大大提高了帶寬、幅度和相位精度、相位穩(wěn)定性、動(dòng)態(tài)范圍（信噪比）和先進(jìn)的校準(zhǔn)技術(shù)。
l 在很多情況下高動(dòng)態(tài)范圍是非常重要的，使用大的動(dòng)態(tài)范圍就有可能把非常低的信號(hào)串?dāng)_測(cè)試出來，對(duì)于差分器件來說高的動(dòng)態(tài)范圍可以識(shí)別非常小的模式轉(zhuǎn)換，如由于差分器件設(shè)計(jì)不對(duì)稱造成差分信號(hào)轉(zhuǎn)換成共模干擾。
l 由于VNA可以直接進(jìn)行線路或電纜的頻域衰減曲線的測(cè)量，所以如果非常關(guān)注測(cè)量結(jié)果的精度和可重復(fù)性，或者希望直接測(cè)量頻域參數(shù)，最好選擇VNA。
4/ 系統(tǒng)誤碼率測(cè)試，用于驗(yàn)證系統(tǒng)實(shí)際傳輸?shù)恼`碼率；
誤碼率是評(píng)判傳輸系統(tǒng)性能的最終標(biāo)準(zhǔn)，新一代高速數(shù)字傳輸系統(tǒng)對(duì)于通道數(shù)目、信號(hào)傳輸速率和傳輸誤碼率提出了越來越高的要求。由于對(duì)于這種高速傳
輸系統(tǒng)來說，往往是采用高速緩沖方式，不大可能采用請(qǐng)求重發(fā)的糾錯(cuò)措施。因此，我們必須保證系統(tǒng)誤碼率的指標(biāo)要求，從數(shù)據(jù)抖動(dòng)、眼圖張開度、誤碼特性等測(cè)試方面入手，在信號(hào)電平體制、編碼方式和協(xié)議以及保證傳輸線匹配方面多做文章，從而保證傳輸系統(tǒng)的正常工作。
Agilent 的ParBERT 81250A 并行誤碼測(cè)試系統(tǒng)采用VXI模塊化構(gòu)架，為了滿足用戶不同的測(cè)試需求，以及增強(qiáng)系統(tǒng)配置擴(kuò)展升級(jí)的靈活性，系統(tǒng)硬件劃分為前端、數(shù)據(jù)模塊、時(shí)鐘模塊、主機(jī)箱，系統(tǒng)控制計(jì)算機(jī)組成（如下圖所示）。
前端決定了數(shù)據(jù)端口的特性（碼型發(fā)生器/誤碼分析器)能力，而數(shù)據(jù)模塊作為小的機(jī)架，承載前端并最終實(shí)現(xiàn)其（碼型發(fā)生器/誤碼分析器)功能。這樣，數(shù)據(jù)模塊就能夠?qū)?shù)據(jù)碼形(包括用戶自定義數(shù)據(jù)文件，標(biāo)準(zhǔn)PRBS/PRWS)進(jìn)行生成、排序和分析。所有數(shù)據(jù)模塊需要至少一個(gè)時(shí)鐘模塊驅(qū)動(dòng)，才可以產(chǎn)生/分析相應(yīng)速率的數(shù)據(jù)，其作用是產(chǎn)生儀器的公用系統(tǒng)時(shí)鐘或頻率。
最后所有這些前端及模塊插入13槽VXI機(jī)箱，通過Firewire(高速串行連接標(biāo)準(zhǔn)總線)接口被外置（或嵌入式VXI控制計(jì)算機(jī)）系統(tǒng)控制器控制，人機(jī)界面都是通過ParBERT 81250A 功能強(qiáng)大的系統(tǒng)軟件構(gòu)成，系統(tǒng)支持在MS Windows NT4.0，Windows 2000或Windows XP操作系統(tǒng)下工作。
5/ 總結(jié)
以下是整個(gè)LVDS傳輸系統(tǒng)的測(cè)試平臺(tái)構(gòu)成。
