| 設(shè)計(jì)技術(shù)問(wèn)答：?jiǎn)纹瑱C(jī)應(yīng)用編程技巧 | |
| 所屬分類：教程|講義 | |
| 上傳者：serena | |
| 標(biāo)簽： 單片機(jī) | |
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| 文檔介紹：Q1：請(qǐng)介紹一下MCU的測(cè)試方法。A1：MCU從生產(chǎn)出來(lái)到封裝出貨的每個(gè)不同的階段會(huì)有不同的測(cè)試方法，其中主要會(huì)有兩種：中測(cè)和成測(cè)。所謂中測(cè)即是WAFER的測(cè)試，它會(huì)包含產(chǎn)品的功能驗(yàn)證及AC、DC的測(cè)試。 | |
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