| TI電源設(shè)計經(jīng)驗談1-50 | |
| 所屬分類：白皮書 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大小：5259 K | |
| 標(biāo)簽： TI 電源設(shè)計 | |
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| 文檔介紹：作者介紹： Robert Kollman 現(xiàn)任 TI 高級應(yīng)用經(jīng)理兼科技委員會的資深委員。他 擁有在電源電子領(lǐng)域超過 30 年的工作經(jīng)驗，并為電源電子設(shè)計了從低功 耗 (sub-watt)到超低功耗 (sub-megawatt) 的磁性元件，工作頻率在兆 赫 茲 范 圍 內(nèi) 。 Robert 畢 業(yè) 于 得 克 薩 斯 A&M 大 學(xué) (Texas A&M University) ， 獲 電 子 工 程 理 學(xué) 士 學(xué) 位 ， 后 又 畢 業(yè) 于 南 衛(wèi) 理 公 會 大 學(xué) (Southern Methodist University)，獲電子工程碩士學(xué)位。 | |
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