| 基于老化特征化提取進(jìn)行時(shí)序分析的解決方案 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：675 K | |
| 標(biāo)簽： 老化標(biāo)準(zhǔn)單元庫 Cadence Liberate Aging Aware STA | |
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| 文檔介紹：基于Cadence的Liberate + Tempus解決方案，采用一種先進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)單元老化特征化的方法，同時(shí)考慮了偏置溫度不穩(wěn)定性(Bias Temperatrure Instability，BTI)和熱載流子注入(Hot Carrier Injection，HCI)老化效應(yīng)，得到標(biāo)準(zhǔn)單元老化時(shí)序庫，用于Tempus進(jìn)行考慮老化的靜態(tài)時(shí)序分析(Aging-aware Static Timing Analysis，Aging-aware STA)。產(chǎn)生一套先進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)單元老化時(shí)序庫，能夠針對(duì)不同標(biāo)準(zhǔn)單元不同傳輸路徑，表征一定范圍的老化應(yīng)力條件的時(shí)序特征，改善了傳統(tǒng)添加全局時(shí)序減免值導(dǎo)致電路PPA(Performance/Power/Area)難以收斂的問題，同時(shí)只需要調(diào)用一套標(biāo)準(zhǔn)單元庫也使STA更加簡(jiǎn)潔易操作。 | |
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