| 基于Liberate+Tempus的先進老化時序分析方案 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>766 K | |
| 標簽： 芯片老化 靜態(tài)時序分析 Tempus | |
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| 文檔介紹：在先進工藝節(jié)點(7 nm，5 nm及以下)下，電路老化已經(jīng)成為制約芯片性能和可靠性的“卡脖子”難題。老化效應(yīng)將導(dǎo)致器件延時增大，進而產(chǎn)生時序違例的風(fēng)險。數(shù)字電路設(shè)計工程師需要在時序分析中預(yù)判老化后的時序情況，并針對性地設(shè)置時序裕量，才能確保芯片在服役期限中可靠地運行。鑒于此，導(dǎo)入基于Liberate+Tempus的考慮老化效應(yīng)的靜態(tài)時序分析(aging-aware STA)方案。評估結(jié)果顯示，該方案能在兼顧效率、準確性、多樣場景老化時序分析的同時實現(xiàn)時序裕量釋放，為達成具備更高可靠性和更佳性能的先進芯片設(shè)計提供有力依據(jù)。 | |
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