| 多發(fā)連續(xù)沖擊波超壓智能存儲(chǔ)測試系統(tǒng) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：722 K | |
| 標(biāo)簽： 沖擊波 采集存儲(chǔ) 信號(hào)調(diào)理 | |
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| 文檔介紹：針對連發(fā)作戰(zhàn)試驗(yàn)的復(fù)雜環(huán)境，研究一種基于SRAM和Flash的多發(fā)連續(xù)沖擊波智能存儲(chǔ)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)以FPGA為核心控制器，利用采集存儲(chǔ)技術(shù)結(jié)合信號(hào)觸發(fā)識(shí)別、標(biāo)記，實(shí)現(xiàn)了連續(xù)沖擊波的多通道智能存儲(chǔ)。對4路壓阻式傳感器的信號(hào)調(diào)理實(shí)現(xiàn)基線自動(dòng)調(diào)節(jié)，保證了系統(tǒng)的靈活性與適用性;對SRAM分區(qū)存儲(chǔ)管理、對Flash進(jìn)行流水線存儲(chǔ)實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的多通道多觸發(fā)次數(shù)下的快速存儲(chǔ)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明：測試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)4個(gè)通道、1MS/s采樣速率、連續(xù)32次觸發(fā)下的信號(hào)智能存儲(chǔ)，可應(yīng)用于作戰(zhàn)試驗(yàn)中的連續(xù)爆炸沖擊波測試。 | |
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