| 基于FCM flow的小規模數字電路芯片測試 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大小：1402 K | |
| 標簽： DFT 覆蓋率 Verisium manager | |
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| 文檔介紹：隨著芯片工藝的不斷演進，數字芯片的規模急劇增加，測試成本進一步增加。目前先進的DFT技術已應用于大規模SoC芯片的測試，包括掃描路徑設計、JTAG、ATPG（自動測試向量生成）等。但對于一些小規模集成電路，插入掃描鏈等測試電路會增加芯片面積并增加額外的功耗。對于這種芯片，功能case生成的pattern可用于檢測制造缺陷和故障。因此，需要一些方法來驗證覆蓋率是否達到了目標。Verisium manager工具依靠Xcelium的故障仿真引擎和Jasper功能安全驗證應用程序（FSV）可以解決這個問題。它為 ATE（自動測試設備）pattern的覆蓋率分析提供了一個新的思路。 | |
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