| 基于ADS的微系統(tǒng)電源完整性仿真及優(yōu)化 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>4441 K | |
| 標(biāo)簽： 電源完整性 電源分配網(wǎng)絡(luò) 阻抗 | |
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| 文檔介紹：隨著芯片制造技術(shù)和封裝技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品內(nèi)部的器件集成度和信號(hào)速度在持續(xù)提高，微系統(tǒng)成為一種新興的形式，這導(dǎo)致了對(duì)電源完整性的要求不斷提高。不合理的電源完整性設(shè)計(jì)將會(huì)給電源質(zhì)量和信號(hào)質(zhì)量帶來(lái)極大的干擾，甚至?xí)瓜到y(tǒng)崩潰。針對(duì)所設(shè)計(jì)的多芯片微系統(tǒng)設(shè)計(jì)進(jìn)行了電源完整性的仿真，并利用基板、PCB去耦電容網(wǎng)絡(luò)協(xié)同去耦的方式對(duì)電源分配網(wǎng)絡(luò)阻抗進(jìn)行了優(yōu)化，解決了微系統(tǒng)內(nèi)部的空間有限與去耦電容需求量大的矛盾，保證了微系統(tǒng)的電源完整性。 | |
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