| 器件級帶電器件模型靜電放電測試標(biāo)準(zhǔn)分析及應(yīng)用 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>3887 K | |
| 標(biāo)簽： 帶電器件模型 器件級 測試標(biāo)準(zhǔn) | |
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| 文檔介紹：針對器件級帶電器件模型（CDM）靜電放電國內(nèi)外主要測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了整理、分析與解讀。梳理了各標(biāo)準(zhǔn)之間的差異性和關(guān)聯(lián)性，明確了各標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用范圍與技術(shù)要點(diǎn)。深入研究了影響器件級帶電器件模型（CDM）靜電放電測試結(jié)果的因素與控制方法，提出了在標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用過程中保障結(jié)果一致性和準(zhǔn)確性的相關(guān)技術(shù)技巧，為器件級帶電器件模型（CDM）測試標(biāo)準(zhǔn)的選擇、測試和工程應(yīng)用提供了指導(dǎo)。 | |
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