| AN-397：標準線性集成電路的電誘發(fā)損壞：最常見起因和防止再發(fā)生的相關處理 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：ADI | |
| 文檔大小：498 K | |
| 標簽： 信號調理 | |
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| 文檔介紹：電子器件對瞬態(tài)電氣過應力事件的靈敏度是眾所周知的問 題，隨著集成電路的不斷發(fā)展，這一問題日益嚴重。幾何 尺寸縮小，電路密度增加和分配給片內(nèi)保護的面積有限都 會使此靈敏度趨于增加。為了將每一特定系統(tǒng)實施環(huán)節(jié)的 成本降至最低，瞬態(tài)保護的任務往往轉而采用其它效率更 低的方式。 | |
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