| 基于單片機(jī)的AFM納米機(jī)械性能測試系統(tǒng) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：serena | |
| 標(biāo)簽： 單片機(jī) AFM系統(tǒng) | |
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| 文檔介紹：為解決采用原子力顯微鏡（ＡＦＭ）系統(tǒng)進(jìn)行納米機(jī)械性能測試中存在的不能夠直接獲得載荷?壓深曲線以及不能夠隨意改變加載、保載、卸載時間等問題，對ＡＦＭ系統(tǒng)進(jìn)行了改造，開發(fā)了一套基于單片機(jī)的信號輸入輸出模塊。將該模塊與ＡＦＭ控制系統(tǒng)相聯(lián)，形成新的納米機(jī)械性能測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)信號輸出精度為０．１５ｍＶ，信號采集精度為０．３ｍＶ，工作臺的移動靈敏度為１．５３ｎｍ，可以動態(tài)改變垂直載荷，并實(shí)時獲得載荷?壓深曲線。通過單片機(jī)設(shè)置模擬信號的輸出速率可以實(shí)現(xiàn)加載、保載和卸載速率的改變；結(jié)合二維微動精密工作臺，可以實(shí)現(xiàn)較大范圍內(nèi)高精度的點(diǎn)陣壓痕測試。 | |
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