| 金屬封裝微系統內部高壓擊穿和爬電問題的點云分析方法 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：wwei | |
| 文檔大?。?span>6340 K | |
| 標簽： 微系統 點云分析 Dijkstra算法 | |
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| 文檔介紹： 面對金屬封裝高壓隔離微系統內部潛在的擊穿和爬電風險，結合高精度建模和圖論思想建立一種新的可靠性分析方法，為產品的設計和測試提供有力保障。首先，將微系統三維模型轉化為點云模型，經濾波和曲面重構形成可計算的數值模型；之后，根據幾何特征和物理關系，將表面爬電問題和擊穿問題分別等效為測地路徑和歐氏路徑的計算；并根據微系統布局方式優化Dijkstra算法，計算封裝后的擊穿和爬電路徑；最終，參考實驗標準判斷產品風險等級。對照實驗結果與計算匹配，精度理想，表明該方法對微系統相關問題的有效性。 | |
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